半导体二极管自身可靠性：失效模式与筛选

三类失效

1. COD 灾变性损伤：腔面瞬时过热熔化，光功率突降为零。诱因是电流尖峰、回返光或腔面污染。
2. 渐变退化：缺陷在有源区内扩展，阈值电流缓慢上升、斜率效率下降。正常老化即属此类，寿命定义为功率降至初始 80% 的时间。
3. 腔面/窗口退化：如前述光致污染、腔面氧化。

筛选方法

• 出厂前 4896 h 高温（5060 ℃）加速老化，剔除阈值电流漂移 > 5% 的个体。
• 记录每颗器件的 P-I 曲线和光谱，批次留档，便于追溯。
• 对比不同品牌同规格器件时，看的是 1000 h 老化后功率保持率，而不是出厂功率。